برنامج قياس الرؤية ثنائي الأبعاد مع مرشحات الألوان والتدرج الرمادي لاكتشاف الحواف

توفر سلسلة برنامج Rational Vue 2D Measurement Software قدرات قياس صور ثنائية الأبعاد عالمية وقوية. فإنه يدعم قياس العناصر الأساسية بما في ذلك النقاط والخطوط والزوايا والدوائر،والمسافاتمع التحكم في الحركة المتميزة للآلات الآلية، وظائف الكشف المتقدمة الحافة، وسهولة البرمجة، RationalVue يضمن كفاءة قياس عالية لتطبيقات الإنتاج الضخم.مثالية للهواتف الخلوية، المنتجات البلاستيكية، الإلكترونيات، وغيرها من الصناعات التي تتطلب الإنتاج الضخم ومراقبة الجودة.

إمكانات معايرة متقدمة بما في ذلك معايرة مقياس CCD الطول والعرض ، معايرة CCD تلقائية الدوران / أفقية ، معايرة كوكسيال عدسة CCD ، ومعايرة بكسل CCD.أساليب المعايرة المتعددة تعظيم دقة القياسمعايرة تشويه العدسة تعزز بدرجة كبيرة الدقة للعدسات ذات الزوايا العريضة الكبيرة.

يزيل التصفية المتقدمة البقع وعدم الكمال من المنتجات المقاسة ، مما يلغي المناطق المنحدرة أو المنحدرة لضمان قياسات كاملة ودقيقة.

يلتقط الحواف الغامضة والخام بسهولة، مما يتيح القدرات القياسية التلقائية الحقيقية.

حدد ألوان قياس محددة مع إزالة التداخل من ألوان أخرى لقياسات دقيقة.

إزالة تأثيرات حواف التركيز الأبيض وتصفية الحواف غير المقاسة لضمان عدم تأثير الحواف الضعيفة على الحواف الأوضح.

قدرات معالجة متقدمة للسيناريوهات القياسية المختلفة الصعبة.

قدرات قياس شاملة بما في ذلك النقاط والخطوط والدوائر والأقواس والأقوال البيضاء والمنحدرات والمستطيلات ومسح المنحنى والحافة وتحليل منطقة العيب.يشمل مقارنة الشكل مع المنحنيات الاسمية CAD.

الخوارزمية المتقدمة للحافة الضعيفة تمكن من قياس خطوط الحافة الضعيفة دون إعدادات خاصة.

خوارزمية التركيز المتقدمة تكمل تركيز الجزء في 2-3 ثانية بدقة تركيز متكررة تبلغ 0.003 ملم. مناسبة لقياسات التسامح بما في ذلك الارتفاع والسطح.

تتبع حواف المنتج تلقائيًا لمسح ملفات تعريف المنحنى. مقارنة مع المنحنيات الاسمية CAD المستوردة ، ويحسب أخطاء الملفات ، ويخرج تقارير FormError الرسومية.

أدوات قياس مهنية مصممة خصيصا للوحات الشبكة، مما يسمح بسهولة قياس خطوط الشبكة. مثالية للطاقة الشمسية وصناعات التلفزيون.

قياس خط متعدد الطبقات بزر واحد مع خيارات خط يمكن للمستخدم تحديدها لسيناريوهات قياس معقدة.

الخوارزمية الدولية المتقدمة للبيكسلات الفرعية تزيد بشكل كبير من دقة القياس وتكرارها.

تحسين مسارات القياس إلى أقصر مسارات ممكنة ، مما يزيد من كفاءة القياس ويقلل من تكاليف التشغيل.